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    SiC and GaN Power Converter Analysis Kit

    The SiC and GaN Switching Power Converter Analysis Kit is the ONLY solution in the market that can accurately characterize most of the critical parameters for optimizing Power Electronics topologies that use ultra-fast, power semiconductor switching …

    主要使用者 48W-61538-0
  • 技術文件 文件類型 發行日期
    以隔離方式解決差動式量測誤差的常見來源
    傳統的差動式探棒由於其共模互斥比、頻率降額、頻率響應和探棒長輸入引線中的各種限制,通常無法為實際訊號提供良好的表示。當在具有快速切換速率和甚至標稱共模電壓的功率裝置上進行測試時,這些限制將更為顯著。 本文章將會檢查這些量測誤差來源,並探討如 Tektronix IsoVu 量測系統等隔離解決方案如何克服這些限制。
    技術簡介
    在寬頻帶間隙半導體上量測 Vgs
    本應用摘要介紹在高端 (非接地) FET 上使用 IsoVu 量測系統執行閘極 - 源極電壓準確量測的程序。
    應用摘要
    IsoVu 技術白皮書
    瞭解 IsoVu TM 隔離量測系統如何使用獨特的光隔離形式提供高達 1 GHz 的頻寬,在 100 MHz 時具有優異的 120 dB 共模抑制比,現在差動電壓範圍高達 1000 V。
    白皮書